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 | 接觸電阻率和薄層電阻 TLM-SCAN+接觸電阻率和薄層電阻 TLM-SCAN+ 前金屬化的接觸電阻是對絲網印刷太陽能電池的總串聯電阻的重要貢獻。 具有合適測試結構的轉移長度方法是將接觸電阻與其他串聯電阻效應分開的最佳方法。 然而，接觸電阻可以在太陽能電池上顯著變化，因此需要在成品太陽能電池上以空間分辨率測量它的方法。 TLM-SCAN產生太陽能電池的接觸電阻率的映射，該太陽能電池用激光或切割鋸切割成條紋。 |
 | 四探針 四點探針 四探針測試儀 四探針太陽能硅片電阻率測試儀 四探針 四點探針 四探針測試儀 四探針太陽能硅片電阻率測試儀四探針 四點探針 四探針測試儀 四探針太陽能硅片電阻率測試儀 四探針 四點探針 四探針測試儀 四探針太陽能硅片電阻率測試儀 查看大圖 四探針 四點探針 四探針測試儀 四探針太陽能硅片電阻率測試儀 這款緊湊型儀器在所有軸上均可自動化，可在不到4分鐘內創建100點的薄層電阻和晶圓電阻率映射。 在點擊地圖后將探頭導航到所需位置后，可以重新測量單點。 |
 | 少子壽命測量儀 BCT-400測試硅錠少子壽命測量儀BCT-400測試硅錠BCT-400 BCT-400測量系統不需要做表面鈍化就能直接測量單晶和多晶硅（錠或塊）的少子壽命. 因為少子壽命作為衡量生長和缺陷含量的的最敏感的技術參數，這個工具直接獲得長硅的質量參數。 |
 | CDE ResMap 四點探針 (ResMap 178)4探針測試系統（電阻率，面電阻）CDE ResMap 四點探針 (ResMap 178) CDE 提供自動計算機量測的四點探針阻值量測機臺。快速，精確與軟件控制下針、軟件功能可最佳化下針壓力，即使薄片量測也不易破裂。自動清針(Probe Conditioning);動作，雙針頭切換。太陽能使用可支持自動Loader，300mm 機臺可使用Front End，最多擴充3個量測單元，支持Semi標準接口。 |
 | 少子壽命測試儀 WCT-120測試硅片美國Sinton WCT-120少子壽命測試儀采用了準穩定態光電導(QSSPC)測量方法和分析技術。可靈敏地反映單、多晶硅片的重金屬污染及陷阱效應、表面復合效應等缺陷情況。WCT在效率大于20%的超高效太陽能電池(HIT,MWT,EWT,PREL,等等)的研發和生產過程中是一種被廣泛選用的檢測工具。這種QSSPC測量少子壽命的方法可以在電池生產的中間任意階段得到一個類似光照IV曲線的開壓曲線，可以結合最后的IV曲線對電池制作過程進行數據監控和參數優化等工作。 |
 | 光伏專用電化學ECV 摻雜濃度檢測 電化學CV分布儀（CV測試儀）電化學CV剖面分析儀 電化學CV載流子濃度光伏專用電化學ECV 摻雜濃度檢測 電化學CV分布儀（CV測試儀）電化學CV剖面分析儀 電化學CV載流子濃度 |